掃描電鏡sem測試中噴金儀的作用分析
掃描電鏡幾乎可以對所有類型的樣品進行圖像處理，陶瓷、金屬、合金、半導(dǎo)體、聚合物、生物樣品等。然而，某些特定類型的樣品更具有挑戰(zhàn)性，并且需要同學(xué)們進行額外的樣品制備，以便借助掃描電鏡收集高質(zhì)量圖片。這些額外的步驟包括在樣品中表面濺射一個額外的導(dǎo)電薄層材料，如金、銀、鉑或鉻等。
市面上任何一款電鏡都無法噴金。對樣品噴金需要一種專門的設(shè)備——離子濺射儀。
msp-1s該設(shè)備專用于貴金屬薄膜鍍膜，用于sem觀察。這是一種用貴金屬涂覆 sem 樣品以防止充電并提高二次電子產(chǎn)生效率的裝置。除了使用磁控管靶電極進行低壓放電外，還將樣品臺制成浮動式，以減少電子束流入對樣品造成的損壞。操作簡單，按一下按鈕即可，沒有任何技巧。它很小，不占用太多空間。它放在辦公桌的一角會很有用。用途這是用于sem樣品的金屬鍍膜裝置。
主要產(chǎn)品規(guī)格
物品 規(guī)格
電源 ac100v（單相100v 10a）3p帶地插頭1口
旋轉(zhuǎn)泵 10l/min（裝置內(nèi)置）
設(shè)備尺寸 寬200mm x 深350mm x 高345mm
（設(shè)備重量：14.6kg）
樣品室尺寸 內(nèi)徑120mm x 高65mm（硬玻璃）
樣品臺尺寸 直徑50mm（浮動法）
電極-樣品臺距離 35mm（使用輔助樣品臺時為25mm）
靶電極 內(nèi)置永磁體的磁控管型靶電極
目標(biāo)金屬規(guī)格 φ51mm，厚度0.1mm
pt、pt-pd、au、au-pd、ag
關(guān)鍵詞：貴金屬 離子濺射儀

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