專業(yè)人士總結(jié)！高壓試驗(yàn)設(shè)備工作時(shí)那些容易被忽視的問題
一、高壓試驗(yàn)設(shè)備高壓電氣試驗(yàn)中一些容易被忽略的問題
1、試驗(yàn)設(shè)備和被試設(shè)備的接地問題
（1）試驗(yàn)設(shè)備的接地對試驗(yàn)結(jié)果的正確性、人身的安全起著至關(guān)重要的作用，任何的接地錯(cuò)誤和接地不良都可能導(dǎo)致試驗(yàn)結(jié)果出現(xiàn)誤差或無法進(jìn)行試驗(yàn)。比如說在進(jìn)行對干擾要求較高的高壓試驗(yàn)工作時(shí)要嚴(yán)禁將試驗(yàn)設(shè)備的“工作接地”與“保護(hù)接地”接地同時(shí)接在電源的工作接地上，如果兩個(gè)接地同時(shí)接在電源的工作接地上那么電源工作接地上的雜波將會(huì)影響試驗(yàn)設(shè)備方波的校準(zhǔn)，導(dǎo)致干擾波形無法消除。
（2）被試設(shè)備接地不良。高壓電器的被試設(shè)備如果接地不良則容易引起介質(zhì)的損耗，這種問題通常發(fā)生在耦合電容器或電壓互感器等電容性的設(shè)備上。在發(fā)電廠的變電站里，經(jīng)常把線路與電壓互感器直線連接，以確保線路正常運(yùn)行。如果電氣設(shè)備的連接線或者接地開關(guān)接觸不良，就相當(dāng)于把一個(gè)等量的電阻串聯(lián)在電容器上。比如：倘若電容器的電容量為c，等值串聯(lián)電阻為r，介質(zhì)損耗因數(shù)是tgδ，則它們之間的關(guān)系式為：tgδ=ωcr。根據(jù)公式，當(dāng)設(shè)備出現(xiàn)接地不良的情況后，電容器產(chǎn)生的耗損會(huì)隨著電容量c的增大而加大，當(dāng)電容量c很大的時(shí)候會(huì)導(dǎo)致被試設(shè)備介質(zhì)的耗損超標(biāo)。
2、試驗(yàn)電壓不同所引起的問題
（1）對介質(zhì)損耗因數(shù)測量的影響
介質(zhì)損耗與絕緣材料中的雜質(zhì)有關(guān)，在強(qiáng)磁場作用下，耦合電容器中的連接線接觸不良，電壓較低時(shí)，氧化層未被消融而表現(xiàn)出較大的接觸電阻，介質(zhì)損耗較大；提高試驗(yàn)電壓，氧化膜被消融，接觸電阻下降而導(dǎo)致介質(zhì)損耗減小，這個(gè)時(shí)候即使把試驗(yàn)電壓降低，氧化膜依然是導(dǎo)通的，因而不再增大介質(zhì)損耗。
（2）對直流泄漏電流的影響
導(dǎo)體的形狀、電壓極性和導(dǎo)體之間的距離確定之后，導(dǎo)體表面產(chǎn)生的電暈電流便與電場強(qiáng)度的大小有關(guān)系。外加電壓小于一定值時(shí)，由于電暈電流很小，因而可以忽視它對泄漏電流的影響；當(dāng)試驗(yàn)電壓超過一定值以后，電暈電流將增大很多，從而影響泄漏電流的數(shù)值，此時(shí)便要采取一定的措施來降低電暈電流的影響。
（3）對測量直流電阻的影響
某廠的1臺變壓器在執(zhí)行預(yù)防性試驗(yàn)的時(shí)候，在使用雙臂電橋測量繞組的直流電阻，發(fā)現(xiàn)結(jié)果明顯比歷年數(shù)據(jù)偏大；當(dāng)采用外加直流電壓電流法測量時(shí)，發(fā)現(xiàn)測量結(jié)果與歷年的數(shù)據(jù)很接近；當(dāng)改用不同的儀器進(jìn)行測量時(shí)，測量的結(jié)果變動(dòng)很大。初步斷定出現(xiàn)這一現(xiàn)象原因是變壓器的繞組導(dǎo)線已經(jīng)斷裂，導(dǎo)線斷裂之后會(huì)在斷口表面形成一層導(dǎo)電性差的氧化膜，使用雙臂電橋測試時(shí)，電橋的輸出電壓較低，氧化膜不會(huì)被消融，因而表現(xiàn)出較大的電阻；使用外加電壓電流測試時(shí)，輸出的電壓高，氧化膜被消融而導(dǎo)電，因而測量的直流電阻變小。后經(jīng)解體檢查發(fā)現(xiàn)，該變壓器繞組端部有5處斷裂。上面的測試實(shí)例表明：對于和直流電阻相關(guān)的測量，使用輸出電壓較低的儀器更容易顯露出設(shè)備的缺陷。
3、引線所引起的問題
（1）絕緣帶引發(fā)的問題。在一次測量斷路器斷口電容器的介質(zhì)耗損因數(shù)時(shí)，所得到的數(shù)據(jù)一直不合格，經(jīng)不斷的檢測終發(fā)現(xiàn)只有除去固定引線的塑料帶以后，測量的數(shù)據(jù)才是合格的。用兆歐表進(jìn)行電阻的測量結(jié)果表明：被測試設(shè)備的絕緣電阻都大于10000兆歐，而塑料帶的絕緣電阻只有幾百兆歐，使用這種塑料帶來固定引線，相當(dāng)于在設(shè)備上并聯(lián)了一個(gè)電阻，進(jìn)而增加了設(shè)備的介質(zhì)損耗。為了確保試驗(yàn)結(jié)果的正確性，一定要檢查絕緣塑料帶的絕緣電阻。
（2）避雷器的引線問題。在一次高壓電氣檢測試驗(yàn)中，一臺220千伏的主變中性點(diǎn)避雷器的引線被檢修人員斷開，然而引線的接頭沒有拆除而留在了避雷器上。測試的結(jié)果是：75%直流參考電壓下的泄漏電流高達(dá)80微安；在拆下避雷器上的引線后進(jìn)行重新測試，則發(fā)現(xiàn)泄漏電流已經(jīng)小于20微安。因此，在進(jìn)行高壓電氣試驗(yàn)時(shí)，必須拆除高壓部位的全部引線，從而避免引起電流泄漏和造成微安電表的測量偏差。
4、測量方法所引起的問題。
某發(fā)電廠對1臺油浸式串聯(lián)電抗器進(jìn)行交接試驗(yàn)中，發(fā)現(xiàn)電抗器的介損、絕緣電阻和直流電阻的數(shù)據(jù)均正常，只有電抗器繞組的電抗值與銘牌值相差比較遠(yuǎn)。后來采用三相電源，用電流電壓方法來進(jìn)行測試，加壓使電流值達(dá)到10安，計(jì)算出來的三相電抗值是合格的。初步分析原因：電容電感測試儀是單相測試，另外兩相的繞組是懸空的，鐵芯的耦合作用會(huì)產(chǎn)生空載電流，而導(dǎo)致電抗值會(huì)減小。所以在測試電抗器的電抗值時(shí)，對三相一體式和三相分體式要采用不同的測試方法。
二、高壓試驗(yàn)設(shè)備高壓電氣試驗(yàn)中幾個(gè)需要重視的問題
1、注重高壓ct和pt的二次繞組，弄清楚高壓電氣試驗(yàn)設(shè)備和被試設(shè)備的不良接地問題。同時(shí)考慮測量的精度和安全性，對其中某一端的接地狀況要確認(rèn)無誤。在交流耐壓的試驗(yàn)過程中，仔細(xì)的測量試驗(yàn)品的電容電流強(qiáng)度，利用電流的大小來斷定高壓電氣試驗(yàn)電壓是否正常運(yùn)行。
2、測試過程中要留意引線的重要作用。引線的絕緣帶有幾百兆歐大小的電阻，倘若不拆除絕緣帶，就相當(dāng)于給介質(zhì)增加了幾百兆歐的電阻，影響了高壓電氣試驗(yàn)的正常運(yùn)作。
3、必須重視電壓的重要性。首先，要重視電壓對介損測量的影響。低壓下，氧化層完好無損，因而接觸電阻較大，介質(zhì)損耗較大；若不斷增大試驗(yàn)電壓，氧化層將會(huì)被擊穿，導(dǎo)致接觸電阻變小，從而引起介質(zhì)損耗變小。
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1、試驗(yàn)設(shè)備和被試設(shè)備的接地問題
（1）試驗(yàn)設(shè)備的接地對試驗(yàn)結(jié)果的正確性、人身的安全起著至關(guān)重要的作用，任何的接地錯(cuò)誤和接地不良都可能導(dǎo)致試驗(yàn)結(jié)果出現(xiàn)誤差或無法進(jìn)行試驗(yàn)。比如說在進(jìn)行對干擾要求較高的高壓試驗(yàn)工作時(shí)要嚴(yán)禁將試驗(yàn)設(shè)備的“工作接地”與“保護(hù)接地”接地同時(shí)接在電源的工作接地上，如果兩個(gè)接地同時(shí)接在電源的工作接地上那么電源工作接地上的雜波將會(huì)影響試驗(yàn)設(shè)備方波的校準(zhǔn)，導(dǎo)致干擾波形無法消除。
（2）被試設(shè)備接地不良。高壓電器的被試設(shè)備如果接地不良則容易引起介質(zhì)的損耗，這種問題通常發(fā)生在耦合電容器或電壓互感器等電容性的設(shè)備上。在發(fā)電廠的變電站里，經(jīng)常把線路與電壓互感器直線連接，以確保線路正常運(yùn)行。如果電氣設(shè)備的連接線或者接地開關(guān)接觸不良，就相當(dāng)于把一個(gè)等量的電阻串聯(lián)在電容器上。比如：倘若電容器的電容量為c，等值串聯(lián)電阻為r，介質(zhì)損耗因數(shù)是tgδ，則它們之間的關(guān)系式為：tgδ=ωcr。根據(jù)公式，當(dāng)設(shè)備出現(xiàn)接地不良的情況后，電容器產(chǎn)生的耗損會(huì)隨著電容量c的增大而加大，當(dāng)電容量c很大的時(shí)候會(huì)導(dǎo)致被試設(shè)備介質(zhì)的耗損超標(biāo)。
2、試驗(yàn)電壓不同所引起的問題
（1）對介質(zhì)損耗因數(shù)測量的影響
介質(zhì)損耗與絕緣材料中的雜質(zhì)有關(guān)，在強(qiáng)磁場作用下，耦合電容器中的連接線接觸不良，電壓較低時(shí)，氧化層未被消融而表現(xiàn)出較大的接觸電阻，介質(zhì)損耗較大；提高試驗(yàn)電壓，氧化膜被消融，接觸電阻下降而導(dǎo)致介質(zhì)損耗減小，這個(gè)時(shí)候即使把試驗(yàn)電壓降低，氧化膜依然是導(dǎo)通的，因而不再增大介質(zhì)損耗。
（2）對直流泄漏電流的影響
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3、引線所引起的問題
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4、測量方法所引起的問題。
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二、高壓試驗(yàn)設(shè)備高壓電氣試驗(yàn)中幾個(gè)需要重視的問題
1、注重高壓ct和pt的二次繞組，弄清楚高壓電氣試驗(yàn)設(shè)備和被試設(shè)備的不良接地問題。同時(shí)考慮測量的精度和安全性，對其中某一端的接地狀況要確認(rèn)無誤。在交流耐壓的試驗(yàn)過程中，仔細(xì)的測量試驗(yàn)品的電容電流強(qiáng)度，利用電流的大小來斷定高壓電氣試驗(yàn)電壓是否正常運(yùn)行。
2、測試過程中要留意引線的重要作用。引線的絕緣帶有幾百兆歐大小的電阻，倘若不拆除絕緣帶，就相當(dāng)于給介質(zhì)增加了幾百兆歐的電阻，影響了高壓電氣試驗(yàn)的正常運(yùn)作。
3、必須重視電壓的重要性。首先，要重視電壓對介損測量的影響。低壓下，氧化層完好無損，因而接觸電阻較大，介質(zhì)損耗較大；若不斷增大試驗(yàn)電壓，氧化層將會(huì)被擊穿，導(dǎo)致接觸電阻變小，從而引起介質(zhì)損耗變小。
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