機器的小故障有時會導致zui終產品受到污染。金屬顆粒可以從機器的運動部件中分離出來，因為它會在產品上產生摩擦和沉積，有時會降低產品質量。這篇博客描述了的一項技術，不僅可以檢查污染的存在，而且還可以識別它的起源。
搜尋和消除：產品污染
無論是生產食品、電子設備還是冶金部件，精密機械的引進使生產過程變得工業化和自動化。這些機器有的壽命較短，有時在一定的操作時間后就會產生缺陷，因為它們是由降解材料制成的，因此會產生小顆粒。
這些微粒zui終會沉積在產品上，污染食物，可能會產生有毒金屬。它們可能損壞探測器或印刷電路板（pcb），甚至成為氧化過程的起源，這將損害機械部件的使用效率。
因此，關鍵不只是檢測這些粒子，還要追蹤它們的來源，這樣生產線上的操作人員就可以消除這個問題。根據污染顆粒的性質和大小，有幾種調查方法可供選擇。一些技術被證明是更有效的，因為他們充分利用了材料的化學和物理性質進行分析。
電子顯微鏡檢測粒子
對小型工業來說，電子顯微鏡的出現，揭示了一種全新的檢測污染的方法，一種比以往使用的方法更有效和準確的方法。。掃描電鏡目前在使用便捷性，分析速度方面有巨大的改善，臺式掃描電鏡以更低的使用成本獲得了小型企業用戶的青睞。
通過使用掃描電鏡（sem）的背散射電子探測器（bsd），可以產生樣品和粒子的高倍放大圖，不同的對比度突顯出不同的成分。
圖1：香蕉中金屬顆粒污染的掃描電鏡（sem）圖像（亮區）和帶塵埃的pcb表面（暗區）。不同的成分立即可見，具體的分析可以從可疑的區域開始。
因此，只要簡單地掃描樣品表面，就可以檢測到數十納米的所有粒子。
這個過程有助于識別污染的存在，但這并不是掃描電鏡（sem）能夠提供的*信息!
sem和eds：化學成分分析儀器
電子顯微鏡實際上可以配備能量色散x射線譜儀（eds）。這意味著在幾秒鐘內，同樣的設備可以提供和分析樣品的準確化學成分。
這種分析的結果可以進一步用來確定污染物的來源（例如，在生產線中使用的一種非常特殊的鋼或塑料），并有選擇地修復導致污染的機器部件。在幾分鐘內，產品的質量可以提高到正常的標準，并優化生產線。
關于eds的更多信息
如果想在掃描電子顯微鏡中更深入地研究eds，可以看看以下產品介紹——飛納臺式掃描電鏡能譜一體機phenom prox。

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