日本napson手持式探針的手動無損（渦流法）電阻測量儀ec-80p
產品特點只需觸摸手持式探頭即可測量電阻。在電阻/薄層電阻測量模式之間輕松切換使用jog撥盤輕松設置測量條件連接到連接器的可替換電阻測量探頭可支持多種電阻（電阻探頭：多可以使用2 + pn判斷探頭）測量規格測量目標
半導體/太陽能電池材料相關（硅，多晶硅，sic等）
新材料/功能材料相關（碳納米管，dlc，石墨烯，銀納米線等）
導電薄膜相關（金屬，ito等）
硅基外延，離子與
半導體相關的進樣樣品化合物（gaas epi，gan epi，inp，ga等）
其他（*請與我們聯系）
測量尺寸
無論樣品大小和形狀如何均可進行測量（但是，大于20mmφ且表面平坦）
測量范圍
[電阻] 1m至200ω·cm
（*所有探頭類型的總范圍/厚度500um）
[板電阻] 10m至3kω/ sq
（*所有探頭類型的總范圍）
*有關每種探頭類型的測量范圍，請參閱以下內容。
（1）低：0.01至0.5ω/□（0.001至
0.05ω-cm）（2）中：0.5至10ω/□（0.05至0.5ω-cm）
（3））高：10至1000ω/□（0.5至60ω-??cm）
（4）s-高：1000至3000ω/□（60至200ω-cm）
（5）太陽能晶片：5至500ω/□（0。 2至15ω-cm）

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