性能特點
??超大液晶人性化操作界面
??多種測量參數可選
??測量數據自動保持功能
??超快測量并顯示讀數
??量程有自動和手動雙模式
??檔號顯示及檔計數功能
兼容多種材料測量。
??專業的通訊接口可以與 pc 進行數據通訊及對儀器的遠程控制顯示器 (電腦和pc軟件是選配)高清 lcd 液晶顯示:顯示位數 6 位
測量范圍和精度
電阻率 1µω?cm -2mω?cm
方塊電阻 10µω/□ -2mω/□
模擬電阻 1µω-2mω
精度 電阻率、方阻:4%;模擬電阻:0.1%;
測量功能
量程方式 自動,保持
測量速度 快速: 10 次/秒,中速: 5 次/秒,慢速: 2 次/秒
觸發方式 內部,手動,外部
分選和接口
分選功能 內建比較器:合格、上超和下超
訊響 合格,不合格,關閉
接口配置 rs-232c 接口/handler/usb device(選件)
一般規格
操作環境 0°c -40°c ,≤90%rh
保證精度環境 23±5℃,≤80%rh
電源要求 198v -242v(ac),47.5hz -63hz
功耗 ≤30 va
可根據不同材料特性需要,有多種測試探頭可供選擇。有高耐磨碳化鎢探針探頭,以測試硅類半導體、石墨烯、熱敏材料、金屬、導電塑料等硬質材料的
電阻率和方阻;也有球形鍍金銅合金探針探頭,可測試柔性材料導電薄膜、pe 膜、電容卷積膜、金屬箔、金屬涂層或者碳紙、薄膜、陶瓷、玻璃基底上導電膜(ito 膜)、鋰電池電池電極片、氫燃料電池電極片或納米涂層等半導體材料的電阻率和方阻。儀器適用于半導體材料廠、高等院校和科研單位對導體、半導體材料導電性能的測量。
應用
? 金屬片、導電金屬箔材料、金屬箔上涂層
? 單晶硅、多晶硅、硅片、硅晶棒、硅錠、硅塊料
? 石墨烯、鋰電池電極、氫燃料電池雙極板、太陽能電池片
?
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