日本電測densoku便攜式膜厚計qnix系列
一種便攜式膜厚計，可以容易地提高麻煩的膜厚測量的生產效率。
qnix系列產品允許您僅使用超輕型緊湊型儀器和探頭即可測量膜厚，而無需攜帶厚膜厚計。
無線測量無需電纜。它有助于將測量數據傳輸到個人計算機，也有助于防止測量過程中掉落事故。
qnix系列功能無需校準薄膜即可進行精que的薄膜厚度測量
提供出廠時輸入的16點校準數據。這樣就無需進行麻煩的薄膜打樣工作，并且可以進行精que的薄膜厚度測量。
膜厚測量數據傳輸的新技術
在傳統的測量儀器中，測量儀器通過電纜連接到個人計算機以傳輸測量數據。qnix系列使用“無線加mi狗”，只需將其插入usb端口即可進行傳輸。您可以更快，更輕松地瀏覽測量數據。
超輕便的無線測量儀
探頭測得的數據被無線發送到主機。也減少了被電纜夾住或像常規產品一樣妨礙并導致墜落事故的風險。此外，該探頭重30克，非常輕巧，因此您無需攜帶笨重的儀器。
一種不易折斷且不會在測量對象上留下痕跡的探針。
qnix系列探頭被增強塑料包圍，耐用性提高了30％。即使在極少數的故障情況下，拆卸和維修也很容易，因此可以縮短維修時間。此外，它配備了紅寶石芯片，因此您可以安全地測量樣品而不會損壞它。
qnix系列比較規格表 qnix 8500 qnix
4500/4200 qnix 7500 qnix carcheck系統 qnix方便
可測量的電影 [f]黑色金屬上的非磁性涂層
[n]黑色金屬上的非導電涂層
[fn]黑色/黑色材料上的非磁性/非導電涂層 [fn]黑色金屬和有色金屬材料上的非磁性和非導電涂層 [fn]鐵/鋁材料上的非磁性/非導電膜厚度
材料識別 黑色金屬和有色金屬的
自動識別和交換 黑色金屬和有色金屬的
自動識別和交換 用戶的轉換 黑色金屬和有色金屬的
自動識別和交換 鐵/有色金屬自動識別模式轉換
測量原理 [f]磁通量（霍爾效應）
[n]渦流
測量范圍 0至2,000μm
（可選：5,000μm） 0至3,000μm 0至2,000μm
（可選：5,000μm） 0?5,000微米 0?500微米
gao
分辨率 0.1μm，1μm
[m]0.01μm 1微米 0.1微米 0.1微米，1微米 5微米
配置格式 0點校正
用戶校準：1
[m]100 0點校正 0點校正 沒有校準功能 沒有校準功能
準確性 ±（1μm+ 2％）
±3.5％
（2mm以上）
[t]±
（0.3μm+ 2％） ±（2μm+ 3％） ±（1μm+ 3％） ±（1μm+ 2％）
±3.5％
（2mm以上） ±（10微米+ 5％）
測量速度 1,500ms
（約40次/分鐘）
[t]920ms
（約65次/分鐘）
[r]1,600ms
（約37次/分鐘） 600ms
（約70次/分鐘） 1,300ms
（約46次/分鐘） 1,500ms
（約40次/分鐘） 600ms
（約100次/分鐘）
便攜式薄膜測厚儀的型號代碼指南
[f]黑色金屬材料的非磁性膜厚度測量
[n]有色金屬材料的非導電膜厚度測量
[fn]用一根探針測量黑色金屬和有色金屬的厚度
[t]微型探針
[m]測量數據存儲功能，數據傳輸到pc

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