實驗儀器：
電子散斑干涉實驗系統 型號：fmd5051
電子散斑干涉( espi)技術是一種非接觸式全場實時測量技術,因其通用性強、測量精度高、頻率范圍寬及測量簡便等優點 ，電子散斑干涉無損檢測技術可以完成位移、應變、表面缺陷和裂紋等多種測試。電子散斑干涉實驗系統借助于粗糙表面信息的攜帶者-散斑來研究物體離面形變，是計算機圖像處理技術、激光技術以及全息干涉技術相結合的一種現代光測技術。激光的高相干性使散斑現象顯而易見，采用ccd攝像機，使之可采用計算機處理數據和圖像。電子散斑干涉應用廣泛，如物體形變測量、無損測量、振動測量等。
實驗內容：
1.了解電子散斑干涉原理；
2.掌握干涉光路及圖像處理軟件；
3.使用本系統來測量三維離面位移；
技術指標：
氦氖激光器：632.8nm，tem00>1.5mw，發散角<5mrad
ccd攝像機：pal制，電源dc12v，1000ma
分束鏡規格：60mm*50mm*6.3mm
擴束鏡：f=4.5mm
加熱用電源：電壓可調范圍：0v-110v
二維平移底座：上下前后二維位置可調；
圖像采集卡：分辨率：640*480*16
待測物體：受熱變形和受力變形各一件；
通用底座，干板架，白屏，反射鏡等；

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