1.ict盲點：
①特殊ic（個別ic對gnd、vcc無保護二極體）
②單點測試（如排插、插座、個別單個測試點的元件）
③并聯(lián)10個以上的電容并聯(lián)（示電容的精密度作調(diào)整）
④并聯(lián)15倍以上小電阻的大電阻
⑤d/l或d/10ω以下，d不可測
⑥跳線并聯(lián)
⑦壓敏電阻/濾波器
⑧ic內(nèi)部功能測試
2.壓床行程不足,探針壓入量程小于2/3
3.pcb板定位柱松動，造成探針偏離焊盤
4.治具針點不準(zhǔn)，探針無法接觸到測試點
5.pcb上測試點/裸銅板/有機可焊保護劑/助焊劑/label/過穿孔綠油未打開/吃錫不良
6.pcb制程不良：如未洗板導(dǎo)致pcb上松香過多探針接觸不良
7.探針不良（如針頭鈍化、老化、阻抗過高……）
8.元件廠商變更（如小電容、ic之testjet）可加大±%，更改testjet值
9.未debug良好
10.ict自身故障

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