ict原理介紹:
一.隔離( guarding )原理
隔離為ict量測很重要的一種應用技術,乃是將待測零件相連接的零件給予隔離,使待測零件的量測不受影響,如下圖所示,應用運算放大器設計之電壓隨耦器,使輸出電壓( vg )與其輸入電壓( va )相等,及運算放大器之兩輸入端間虛地( virtual ground )的原理,使得與待測零件相連的零件之兩端同電位,而不會產生分流來影響待測零件的量測,如同是已將將待測零件相連接的零件給予隔離。
經由隔離之實施后,流經r1的電流幾近零,不致影響r之量測。
由于vg=va,因此i3=0
所以r1=v/i1
隔離( guarding )基本原理圖
定電流測量法
如下圖所示,為被使用測量大電阻的測量法,乃是應用歐姆定律( ohm’s law ):r = v / i,提供定電流源至待測電阻,再由其兩端所量測之電壓值,來計算待測電阻之阻值。
定電流/電壓測量法
如下圖所示,為常被使用之電阻的測量法,乃是應用反相放大器( inverting amplifier )原理:vo = -vi * rf / r,計算出待測電阻rdut= -vi * rf / vi。
二.電容器的測試原理
如上圖所示應用運算放大器( opa )之反相放大原理:vo = -v * r / xc,其中xc =1/ ( 2pfc )乃電容所產生的電抗,f為交流定電壓的頻率,再以角加速度『w= 2pf』來代表,則可由公式:c=-vo / ( v *w* r ),來計算出電容之值
定電流測量( mode c )
當電容值為10uf以上時,計算機會自動設定dc電容量測法。此法是用dc定電流來使待測電容充電,然后由充電的時間可算出電容值
如上圖所示由于在充電電壓與其充電時間成線性關系,故可由其斜率,來計算出待測電容之值。
三.電感器的測試原理
如上圖所示應用運算放大器 ( opa )之反相放大原理:vo = -v * r / xl,其中xl = ( 2pfl )乃電感所產生的電抗,f為交流定電壓的頻率,再以角加速度『w = 2pf』來代表,則可由公式:l =- v * r / (w * v0 ),來計算出電感之值。四.普通二極管的測試方法(mode d)二極管采用如下圖所示之順向電壓測量法,來辨別二極管的好壞,正常的硅( silicon )二極管之順向電壓約為0.7v,而鍺( germanium )二極管之順向電壓約為0.3v。
五.晶體管的測量原理(三端點) ( mode tr )晶體管的測量方法如下圖從晶體管的基極( base )送脈波電壓,由于晶體管工作于飽和狀態( saturation status )時集極與射極之間所測量的電壓( vce )會小于0.2v以下,因此可藉之來辨別晶體管的好壞。
六.短/開路的測試原理 (open/short test)
學習短路表( learning short pin group table )短/開路(open/short )的測試數據可由學習一個良品的電路板而得。當學習時,計算機會測量任意兩個測試點( test point )之間的阻值,然后產生一個短路表( short pin group table ),學習時,任意兩點間的阻值小于20ω(初使值)即被判定兩點間為短路,否則為開路。
短/開路測試
短/開路測試是根據上述短路表的資料來做測試;先做短路測試( short test )再做斷路測試( open test ),說明如下:
開路測試是測試在同一短路群( short pin group )里的每一測試點間( test point )是否有斷路現象,判別開路的基準阻值是80ω(初使值);也就是說任意二點間的阻值如果大于80ω(初使值),則被判定為開路錯誤( open fail )。
短路測試是測試任意一短路群的測試點和其它短路群的測試點之間,是否有短路現象,判別短路的基準是5ω(初使值);也就是說,如果任意兩點間的阻值是小于5ω(初使值),則被判定為短路錯誤( short fail )。
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