2020年8月起，島津開啟科技校園行活動(dòng)，產(chǎn)品經(jīng)理聯(lián)合公司多部門共同走進(jìn)高校用戶，與高校學(xué)者共同探討分析儀器應(yīng)用技術(shù)，分享應(yīng)用成果。
碳負(fù)載納米*作為催化劑改善mgh2儲(chǔ)氫性能的研究
論文背景介紹…
氫化鎂（mgh2）由于其氫氣儲(chǔ)量（7.6 wt％）、可逆性好、成本低，而備受關(guān)注。但是，受熱力學(xué)穩(wěn)定性和緩慢的脫氫動(dòng)力學(xué)影響，依然無法用于實(shí)際應(yīng)用。
科學(xué)家已嘗試過各種方法來試圖改善mgh2的儲(chǔ)氫的性能，包括添加催化劑、納米結(jié)構(gòu)化、和組分修飾等。特別是，許多實(shí)驗(yàn)已證實(shí)添加催化劑在降低操作溫度，及改善mgh2脫氫動(dòng)力學(xué)方面非常有效。涉及到各類型催化劑有，過渡金屬、稀有金屬、甚至到碳基材料。
本論文中, 通過引入少量tio2 @c復(fù)合材料作為催化劑，以期改善mgh2的儲(chǔ)氫性能。研究結(jié)果發(fā)現(xiàn)，在205~375°c之間，mgh2-10wt％tio2@c樣品可以釋放約6.6wt％的氫氣；在140°c和50 bar氫氣壓力下，可以在10分鐘內(nèi)完成氫氣存儲(chǔ)。
為系統(tǒng)性的對(duì)mgh2-tio2@c脫氫/儲(chǔ)氫過程中結(jié)構(gòu)和組成變化, 需要借助各類儀器分析手段。x射線光電子能譜(xps)可以對(duì)表面元素做定性、定量分析, 也可對(duì)元素的化學(xué)態(tài)進(jìn)行分析。為了解脫氫過程，借助xps手段來檢測(cè)不同脫氫階段時(shí)ti元素的化學(xué)態(tài)，這非常有助于機(jī)理的研究。
以mgh2-10wt% tio2@c為例：對(duì)于球磨制備后的樣品，兩個(gè)xps峰(458.2和463.9 ev)，對(duì)應(yīng)于tio2的2p 1/2 -2p 3/2自旋軌道雙峰，說明ti仍然以tio2存在；此外，也檢測(cè)到兩個(gè)強(qiáng)度較弱的xps峰(455.6 ev和460.4 ev)，對(duì)應(yīng)于tio的2p 1/2 -2p 3/2自旋軌道雙峰。根據(jù)以往文獻(xiàn)報(bào)道，這意味著在球磨后，在mgh2作用下, 一部分ti4+被還原為了ti2+。

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